【講演概要】
●EUVリソグラフィーが実用化されてデバイス製造へも適用が進んでいますが、さらなる高解像性の要求からハイパーNA(NA0.55)のEUVスキャナーの導入が検討されています。
●ハイパーNAでは、DOFの観点、および解像性から、従来のCARレジストに代わってメタルレジストが使われると言われています。
●本講座では、EUVレジストの概要および特にEUVメタルレジストの評価方法について紹介します。
【受講対象】
EUV関連の研究者、技術者。これからEUV材料の研究を始めたい研究者・技術者を対象としています
【受講後、習得できること】
EUVレジストの概要とその評価方法に関する基礎知識
1.EUVLの概要
1.1 EUVLの現状
1.2 EUVメタルレジストの概要
2.EUVレジストの評価技術 (主にEUVメタルレジスト)
2.1 EUV透過率測定
2.2 EUV屈折率nk測定
2.3 EUV 2光束干渉露光
2.4 リガンド脱離反応の観察 (FT-IR法)
2.5 アウトガス分析 (Q-Mass法)
2.6 Depth profileの観察 (GCIB-TOFSIMS法)
3.EUVフォトレジストと電子線レジストの感度の関係
【質疑応答】
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